Следующая книга
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
| Издатель: | Техносфера |
| Серия: | Мир физики и техники |
| Год: | 2009 |
| ISBN: | 978-5-94836-200-7 |
| Формат: | 60x100/16 |
| Количество страниц: | 208 |
| Цена: | 469 руб. |
| Описание: | Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии. |
| Заказать, либо купить книгу |
Книги, литература
Основы проектирования интегральных схем и систем
В книге рассматриваются вопросы, связанные с методикой проектирования интегральных схем и систем, в том ...
Транзисторы для аппаратуры широкого применения. Справочник
Приведены справочные данные на 200 биполярных и 21 полевых типов транзисторов. Предназначается для широкого ...
Малогабаритные магнитопроводы и сердечники
Дан информационно-технический материал по современным магнитопроводам и сердечникам из электротехнических ...