Следующая книга
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
| Издатель: | Техносфера |
| Серия: | Мир физики и техники |
| Год: | 2009 |
| ISBN: | 978-5-94836-200-7 |
| Формат: | 60x100/16 |
| Количество страниц: | 208 |
| Цена: | 469 руб. |
| Описание: | Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии. |
| Заказать, либо купить книгу |
Книги, литература
Функциональные узлы усилителей высококачественного воспроизведения
Приводятся схемы взаимно совместимых функциональных узлов (корректоры, фильтры, усилители мощности и тому ...
Кумулянтный анализ случайных негаусовых процессов и их преобразований
В книге подробно и систематически изложен кумулянтный подход к описанию и анализу произвольных случайных ...
Микропроцессорные структуры. Инженерные решения
Рассмотрены практические вопросы проектирования микропроцессорных устройств и систем на их основе. ...