Следующая книга
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Издатель: | Техносфера |
Серия: | Мир физики и техники |
Год: | 2009 |
ISBN: | 978-5-94836-200-7 |
Формат: | 60x100/16 |
Количество страниц: | 208 |
Цена: | 469 руб. |
Описание: | Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии. |
Заказать, либо купить книгу |
Книги, литература
- Знакосинтезирующие индикаторы
Приведены подробные справочные данные о серийно выпускаемых типах индикаторов: электролюминесцентных, ... - Самоучитель по микропроцессорной технике
Данная книга представляет собой популярный учебник по микроэлектронике. Книга затрагивает широкий круг ... - Системы интерактивного управления СКС
Рассмотрены основные отечественные и зарубежные нормативные документы, относящиеся к области ...