Следующая книга
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
| Издатель: | Техносфера |
| Серия: | Мир физики и техники |
| Год: | 2009 |
| ISBN: | 978-5-94836-200-7 |
| Формат: | 60x100/16 |
| Количество страниц: | 208 |
| Цена: | 469 руб. |
| Описание: | Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии. |
| Заказать, либо купить книгу |
Книги, литература
Оптические системы связи
В книге английского специалиста достаточно полно изложены все вопросы, относящиеся к оптическим системам ...
Флуктуационные явления в полупроводниках и полупроводниковых приборах
Рассмотрены современные методы теоретического анализа флуктуационных явлений в полупроводниках. Приведены ...
Волоконно-оптические системы связи
Основные разделы книги посвящены следующим темам: Источники и приёмники оптического сигнала. ...