Следующая книга
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
| Издатель: | Техносфера |
| Серия: | Мир физики и техники |
| Год: | 2009 |
| ISBN: | 978-5-94836-200-7 |
| Формат: | 60x100/16 |
| Количество страниц: | 208 |
| Цена: | 469 руб. |
| Описание: | Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии. |
| Заказать, либо купить книгу |
Книги, литература
Полевые транзисторы. Справочник
В справочнике приведены сведения об основных электрических параметрах, режимах измерения, предельно ...
Микроконтроллеры MSP430. Первое знакомство
Книга посвящена микроконтроллерам серии MSP430, которые производятся фирмой Texas Instruments. Едва ли удастся найти ...
Современная аналоговая микроэлектроника. Теория и практика
Изложены естественнонаучные представления аналоговой микроэлектроники, основой которых являются ...