Следующая книга
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике
| Автор: | А. А. Афонский, В. П. Дьяконов |
| Издатель: | ДМК Пресс |
| Серия: | Все об электронике |
| Год: | 2011 |
| ISBN: | 978-5-94074-626-3 |
| Формат: | 70x100/16 |
| Количество страниц: | 688 |
| Цена: | 1 267 руб. |
| Описание: | Первая в России книга по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времён, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. |
| Заказать, либо купить книгу |
Книги, литература
Технология микроэлектронных устройств
Рассмотрены механические, химические, ионные, плазменные, электронно-лучевые и другие методы обработки в ...
Микроконтроллеры MSP430. Первое знакомство
Книга посвящена микроконтроллерам серии MSP430, которые производятся фирмой Texas Instruments. Едва ли удастся найти ...
Протоколы стека ОКС7. Подсистема МАР. Книга 10
Описывается протокол MAP (Mobile Applications Part) стека общеканальной сигнализации ОКС7 в современных сетях мобильной ...